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Testclip, 8 POS, 1,27 mm, SOJ/SOIC, IC-Testclips, 1 Stück, 5250

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  • Testclip, 8 Pos, 1,27 mm, Soj Soic
  • IC-Test-Clips
  • Produkttyp: Test
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Testclip, 8 Pos, 1,27 mm, SOJ SOIC, IC Testclips, 1 Stück, 5250 Testclip, 8 Pos, 1,27 mm, SOJ SOIC IC Gehäusestil SOJ, SOIC Anzahl der Kontakte 8 Kontakte Teilungsabstand 1,27 mm. Kontaktbeschichtung vergoldete Kontakte. Produktpalette SVHC Nr. SVHC 15. Juni 2015.


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